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科研机构
北京大学 [12]
内容类型
其他 [12]
发表日期
2016 [1]
2011 [1]
2010 [2]
2007 [3]
2004 [2]
2003 [1]
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GIDL Challenge of GAA SNWT For Low Power Application
其他
2016-01-01
Ming Li
;
Jiewen Fan
;
Yuancheng Yang
;
Gong Chen
;
Ru Huang
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2017/12/03
drain
transistor
junction
overcome
suppressed
extremely
modulated
leakage
overlap
TCAD
drain
transistor
junction
overcome
suppressed
extremely
modulated
leakage
overlap
TCAD
A MIM diode with ultra abrupt switching process and high on/off current ratio
其他
2011-01-01
Zhang, Lijie
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
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提交时间:2015/11/13
DIELECTRICS
DENSITY
CAPACITORS
RADIATION
MECHANISM
Fabrication and electrical properties of SrTiO3/diamond junctions
其他
2010-01-01
Chen, Guang-chao
;
Liao, Meiyong
;
Imura, Masataka
;
Nakajima, Kiyomi
;
Sugimoto, Yoshimasa
;
Koide, Yasuo
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2015/11/12
STO
Single crystal diamond
Diode
Leakage
DIAMOND
Bias temperature instability of binary oxide based reram
其他
2010-01-01
Fang, Z.
;
Yu, H.Y.
;
Liu, W.J.
;
Pey, K.L.
;
Li, X.
;
Wu, L.
;
Wang, Z.R.
;
Lo, Patrick G.Q.
;
Gao, B.
;
Kang, J.F.
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Electron velocity saturation and probable cross-section area of leakage current path post soft breakdown (SBD) in ultrathin gate oxides
其他
2007-01-01
Xu, Ming-Zhen
;
Tan, Chang-Hua
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
Ultrathin oxynitride p-MOSFET recovery characteristics under NBTI stress
其他
2007-01-01
Yandong, He
;
Mingzhen, Xu
;
Changhua, Tan
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/10
Reuse distance based cache leakage control
其他
2007-01-01
Zhao, Yulai
;
Li, Xianfeng
;
Tong, Dong
;
Cheng, Xu
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/13
drowsy cache technique
temporal locality
Reuse Distance
Impact of leakage currents on MOSFET noise performance in deep sub-micron regime
其他
2004-01-01
Liu, HW
;
Huang, GY
;
Huang, R
;
Zhang, X
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
Impact of leakage currents on MOSFET noise performance in deep sub-micron regime
其他
2004-01-01
Liu, Hongwei
;
Zhang, Guoyan
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Reliability characteristics of high-K gate dielectrics HfO2 in metal-oxide semiconductor capacitors
其他
2003-01-01
Han, DD
;
Kang, JF
;
Lin, CH
;
Han, RQ
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/10
reliability
high-K
HfO2
gate dielectrics
INDUCED LEAKAGE CURRENT
HARD BREAKDOWN
SILICON
SIMULATION
MOSFETS
SOFT
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