×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [14]
厦门大学 [1]
武汉大学 [1]
内容类型
其他 [16]
发表日期
2019 [1]
2014 [1]
2013 [1]
2012 [1]
2008 [2]
2007 [1]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共16条,第1-10条
帮助
限定条件
内容类型:其他
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Trade-offs between stress control and blister avoidance in MEMS devices
其他
2019-01-01
作者:
Sun, Quansheng
;
Wu, Lixiang
;
Wang, Junli
;
Wang, Gaofeng
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2019/12/05
thin-film stress
blister defects
roughness
annealing
silicon nitride
amorphous silicon
Low-frequency Testing of Through Silicon Vias for Defect Diagnosis in Three-dimensional Integration Circuit Stacking Technology
其他
2014-01-01
Xu, Yichao
;
Miao, Min
;
Fang, Runiu
;
Sun, Xin
;
Zhu, Yunhui
;
Sun, Minggang
;
Wang, Guanjiang
;
Jin, Yufeng
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Defects and electrical properties of crystalline silicon at different metallurgical route
其他
2013-01-01
Lai, Hui Xian
;
Huang, Liu Qing
;
Fang, Ming
;
Lu, Cheng Hao
;
Chen, Juan
;
Yu, De Qin
;
Li, Jin Tang
;
Ma, Wen Hui
;
Shen, Jian Ning
;
Sheng, Zhi Lin
;
Luo, Xue Tao
;
罗学涛
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/07/22
Defects
Dislocations (crystals)
Electric conductivity
Feedstocks
Ingots
Mechanical engineering
Metallurgy
Refining
Silicon
Slags
Vacuum
Material engineering technique for SiOX-based embedded RRAM with CMOS compatible process
其他
2012-01-01
Pan, Yue
;
Huang, Ru
;
Huang, Yinglong
;
Zhang, Lijie
;
Tan, Shenghu
;
Cai, Yimao
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Impacts of Non-negligible Electron Trapping/Detrapping on the NBTI Characteristics in Silicon Nanowire Transistors with TiN Metal Gates
其他
2008-01-01
Zhang, Liangliang
;
Wang, Runsheng
;
Zhuge, Jing
;
Huang, Ru
;
Kim, Dong-Won
;
Park, Donggun
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/10
GENERATION
CARRIER
SILC
Characteristics of As-grown hole trapping in silicon oxynitride p-MOSFETs subjected to negative bias temperature stress
其他
2008-01-01
Wang, Yangang
;
Zhang, J.F.
;
Chang, M.H.
;
Xu, Mingzhen
;
Tan, Changhua
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/12
The impact of forming temperature on material and electrical characteristics of nickel silicide gate electrode
其他
2007-01-01
Shan, Xiaonan
;
Cai, Yimao
;
Xu, Chuan
;
Li, Yan
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/10
Physical model for surface annihilation of silicon interstitials during annealing
其他
2006-01-01
Zhang, Xiao
;
Yu, Min
;
Zhan, Kai
;
Ren, Liming
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2015/11/13
The role of surface annihilation in annealing investigated by atomic model simulation
其他
2005-01-01
Yu, M
;
Zhang, X
;
Huang, R
;
Zhang, X
;
Wang, YY
;
Zhang, JY
;
Oka, H
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/13
ION-IMPLANTATION
SILICON
DEFECTS
The role of surface annihilation in annealing investigated by atomic model simulation
其他
2005-01-01
Yu, Min
;
Zhang, Xiao
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
;
Zhang, Jinyu
;
Oka, Hideki
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2015/11/13
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace