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Study of impact of LATID on HCI reliability for LDMOS devices 其他
2016-01-01
Chandrashekhar; Sheu, Gene; Yang, Shao Ming; Chien, Ting Yao; Lin, Yun Jung; Wu, Chieh Chih; Lee, Tzu Chieh
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/12/03
Comprehensive Understanding of Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs 其他
2015-01-01
Jiang, Hai; Yin, Longxiang; Li, Yun; Xu, Nuo; Zhao, Kai; He, Yandong; Du, Gang; Liu, Xiaoyan; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03
Understanding of HCI degradation temperature dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV spectroscopy 其他
2015-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03
Understanding of HCI Degradation Temperature Dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV Spectroscopy 其他
2015-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xin
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/12/03
信息推送-美国防高等研究项目局实施ElectRx项目以支持BRAIN计划 其他
2014-09-02
作者:  王玮
收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2014/09/03
NBTI degradation in STI-based LDMOSFETs 其他
2014-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/10
High temperature behavior of multi-region direct current current-voltage spectroscopy and relationship with shallow-trench-isolation-based high-voltage laterally diffused metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors reliability 其他
2014-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03
Understanding the Correlation of HCI and NBTI Degradation in pLDMOSFETs from MR-DCIV Technique 其他
2014-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2015/11/13
An efficient test structure for interface trap characterization under BTI stresses 其他
2014-01-01
He, Yandong; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Multiscale fluid mechanics and modeling 其他
2014-01-01
Chen, Shiyi; Wang, Moran; Xia, Zhenhua
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/10

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