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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：会议     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Integrated Circuit Fault Prognostics Based on the Delay Characteristics of the Clock Network (CPCI-S收录) 会议 作者:  Ye, Lin[1];  Lu, Yudong[2];  Wang, Xin[2];  Huang, Yun[2];  He, Chunhua[2] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/11 integrated circuit  failure prediction  health management  delay characteristics