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大连理工大学 [2]
深圳先进技术研究院 [1]
内容类型
会议论文 [3]
发表日期
2018 [2]
2016 [1]
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Process development and reliability for wafer-level 3D IC integration using micro-bump/adhesive hybrid bonding and via-last TSVs
会议论文
19th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2018, Shanghai, China, 2018-08-08
作者:
Yao, Mingjun
;
Zhao, Ning
;
Yu, Daquan
;
Xiao, Zhiyi
;
Ma, Haitao
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2019/12/02
Process development and reliability for wafer-level 3D IC integration using micro- bump/adhesive hybrid bonding and via-last TSVs
会议论文
2018 19TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC PACKAGING TECHNOLOGY (ICEPT), 2018-01-01
作者:
Yao, Mingjun
;
Zhao, Ning
;
Yu, Daquan
;
Xiao, Zhiyi
;
Ma, Haitao
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2019/12/02
3D IC
wafer-level hybrid bonding
insert Cu pillar solder bump
dry film adhesive
TSVs
reliability
Fabricating Photosensitive Polymer Insulation Layer by Spin-coating for Through Silicon Vias
会议论文
The 17th International Conference on electronic packing Technology (ICEPT 2016), Changsha,China
作者:
Qiang Liu
;
Guoping Zhang
;
Rong Sun
;
S. W. Ricky Lee
;
C. P. Wong
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2017/01/15
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