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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Channel Hot-Carrier Degradation Characteristics and Trap Activities of High-k/Metal Gate nMOSFETs 会议论文 作者:  Wang WW(王文武);  Luo WC(罗维春);  Yang H(杨红) 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2014/10/30 NOVEL VOLTAGE STEP STRESS (VSS) TECHNIQUE FOR FAST LIFETIME PREDICTION OF HOT CARRIER DEGRADATION (CPCI-S收录) 会议论文 2014 12TH IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY (ICSICT) 作者:  Feng, Xixiang[1,2];  Ren, Pengpeng[1];  Ji, Zhigang[3];  Wang, Runsheng[1];  Sutaria, Ketul B.[4] 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2019/04/12 Duty-cycle-accelerated hot-carrier degradation and lifetime evaluation for 700V lateral DMOS 会议论文 2018 IEEE 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), Chicago, IL, USA, 2018 作者:  Siyang Liu;  Zhichao Li;  Wangran Wu;  Weifeng Sun;  Shulang Ma 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2019/12/25