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金属研究所 [3]
北京工业大学 [1]
华南理工大学 [1]
上海技术物理研究所 [1]
内容类型
会议论文 [6]
发表日期
2012 [1]
2010 [1]
2004 [1]
1986 [1]
1985 [1]
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内容类型:会议论文
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Al互连线和Cu互连线的EBSD分析
会议论文
刘志民
;
罗俊锋
;
王俊忠
;
张隐奇
;
吉元
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/06/16
互连线:7743,电子背散射衍射:2809,晶粒结构:2367,金属化系统:2333,微电子器件:2063,反应离子:1962,晶粒取向:1872,热生长:1862,刻蚀工艺:1819,显微结构:1643
NdSn3化合物在晶须生长过程中的氧化行为
会议论文
2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会, 杭州, 2010-10-08
李财富
;
刘志权
;
尚建库
收藏
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2013/08/21
NdSn3化合物
晶须生长
氧化行为
积分时间和积分电容对紫外焦平面性能的影响
会议论文
中国光学学会2004年学术大会
-
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2016/06/04
紫外焦平面
读出电路
积分时间
积分电容
Ni9钢的组织与拉伸断裂行为
会议论文
第五届低温钢会议, 大连, 1986-09-23
张弗天
;
郭蕴宜
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2013/08/21
镍钢
拉伸试验
断裂试验
硼与镍基高温合金中的疏松
会议论文
中国金属学会高温合金中微量元素的控制及其作用鉴定会, 苏州, 1985-11
朱耀宵
;
张顺南
;
徐乐英
收藏
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2013/08/21
镍基合金
耐热合金
含硼合金
凝固相
金相组织
铸造合金
疏松
集成电路中金属互连线焦耳热效应的测试和分析
会议论文
2003第十届全国可靠性物理学术讨论会, 西宁, 2003年09月01日
作者:
郑学仁 [1]
;
詹郁生 [1]
;
罗宏伟 [2]
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/04/19
失效分析
中值寿命
集成电路 焦耳热效应
测试系统
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