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MOSFET总剂量效应的Medici仿真研究 会议论文
2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会, 温州, 2005年10月01日
作者:  林丽 [1];  何玉娟 [1];  李斌 [2];  罗宏伟 [3];  师谦 [3]
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MOSFET总剂量效应的Medici仿真研究 会议论文
第十一届全国可靠性物理学术讨论会, 浙江温州, 2005-10
作者:  林丽 李斌 罗宏伟 师谦 何玉娟
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偏置条件对NMOS器件X射线总剂量效应的影响 会议论文
中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会, 福建武夷山, 2006年10月22日
作者:  何玉娟 [1];  师谦 [1];  罗宏伟 [1];  章晓文 [1];  李斌 [2]
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