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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文    专题：上海应用物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 X-ray multilayer mid-frequency characterizations using speckle scanning techniques 会议论文 San Diego, CA, AUG 06-07, 2017 作者:  Jiang, H;  Yan, S;  Liang, DX;  Tian, NX;  Wang, H 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/31 INTERFACIAL ROUGHNESS  MIRRORS  SCATTERING  TOPOGRAPHY  METROLOGY  OPTICS  FIELD   Structural analysis of Ti(50)Ni(44)Fe(6) single crystal by X-ray fluorescence holography 会议论文 4th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology, Sendai, JAPAN, MAY 21-24, 2008 Hu, W（胡雯）; Hayashi, K; Happo, N; Hosokawa, S; Terai, T; Fukuda, T; Kakeshita, T; Xie, HL; Xiao, TQ（（肖体乔） 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/06/06 Effect of ion dose on growth of relaxed SiGe layer on ion implantation Si substrate 会议论文 8th China-Korea Workshop on Advanced Materials, Chengdu, PEOPLES R CHINA, AUG 02-03, 2004 Chen, CC（陈长春）; Liu, ZH; Huang, WT; Dou, WZ; Xiong, XY; Zhang, W（张伟）; Peihsin, T; Cao, JQ（曹建清） 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/06/06 Growth and properties of epitaxial iron oxide layers 会议论文 10th International Conference on Hyperfine Interactions, LOUVAIN, BELGIUM, AUG 28-SEP 01, 1995 Voogt, FC; Fujii, T; Hibma, T; Hoefman, M; Smulders, PJM; Wijnja, GH; Zhang, GL（张桂林）; Niesen, L 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/09/25