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| 一种抗辐射加固SOI材料的总剂量辐射性能评估方法 专利
申请日期: 2021-02-19,
作者: 郑齐文; 崔江维; 余学峰; 李豫东; 郭旗
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| 一种总剂量效应与工艺波动耦合的电路仿真方法 专利
申请日期: 2021-01-12,
作者: 郑齐文; 崔江维; 李小龙; 魏莹; 余学峰
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| 一种电路级总剂量辐射效应仿真方法 专利
申请日期: 2021-01-12,
作者: 郑齐文; 崔江维; 李小龙; 魏莹; 余学峰
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| 一种基于阈值电压类型匹配的6-T存储单元抗总剂量加固方法 专利
申请日期: 2020-04-14,
作者: 郑齐文; 崔江维; 余学峰; 陆妩; 孙静
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| 一种基于存储器特性的新型剂量探测方法 专利
申请日期: 2019-10-25,
作者: 李豫东; 张巍; 施炜雷; 郭旗
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| 用于元器件电离辐照的X射线辐照方法 专利
申请日期: 2017-09-29,
作者: 李豫东 ; 于刚; 于新; 何承发; 文林
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| 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06,
作者: 孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发
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| 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06, 公开日期: 2019-05-31
作者: 孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发
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| 辐射探测电路 专利
专利号: CN201410645500.0, 申请日期: 2017-04-05, 公开日期: 2015-03-04
作者: 刘鑫; 刘梦新; 韩郑生; 赵发展
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| 辐射探测电路 专利
专利号: CN201410594331.2, 申请日期: 2017-01-18, 公开日期: 2015-03-11
作者: 刘梦新; 罗家俊; 韩郑生; 赵发展; 刘鑫
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