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一种基于工艺因子的集成电路可靠性预计修正方法 专利
申请日期: 2018-01-01, 公开日期: 2019
作者:  高成;  王长鑫;  黄姣英;  杨达明
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一种基于Saber的典型分立器件的可靠性自动预计方法 专利
申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2014
作者:  任羿;  李静
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一种考虑电气互连结构可靠性的电子产品可靠性预计方法 专利
申请日期: 2012-01-01, 公开日期: 2012-09-12
作者:  谷瀚天;  付桂翠;  万博;  张骁
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服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法 专利
申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-09-14
作者:  胡薇薇;  丁潇雪;  孙宇锋;  祁邦彦
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基于元动作单元的任务可靠性预计分析方法 专利
作者:  冉琰[1];  肖莉明[1];  周伟[1];  姚梦生[1];  李清香[1]
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