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一种基于电击穿在氮化硅薄膜上精确制备纳米孔的方法 专利
专利号: 2015107499886, 申请日期: 2018-09-21,
作者:  王德强;  应翠凤;  黄绮梦;  张月川;  冯艳晓
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一种并行动态规划的下一代测序技术拷贝数变异检测方法 专利
申请日期: 2018-06-22,
作者:  段君博;  万明习;  王玉平;  查尔斯·苏森;  大卫·布里
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