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一种利用荧光光谱测量半导体量子点尺寸分布的方法 专利
专利号: 200810035500.3, 申请日期: 2009-01-01, 公开日期: 2011-07-06
作者:  陆卫 杨希峰 陈平平 李天信 甄红楼 张波 李宁 李志锋 陈效双
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硒化镉量子点的制备方法 专利
专利号: 200410017119.6, 申请日期: 2006-01-01, 公开日期: 2011-09-07
作者:  1.孙艳2陈静3孟祥建4戴宁
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