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科研机构
半导体研究所 [5]
内容类型
专利 [5]
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2010 [5]
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内容类型:专利
专题:半导体研究所
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在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12, 2010-10-15
作者:
杨晓红
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浏览/下载:94/0
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提交时间:2010/08/12
一种硅基集成化的光学向量-矩阵乘法器
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-01-20, 2010-08-12, 2010-10-15
张 磊
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耿敏明
;
杨 林
;
贾连希
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田贺斌
;
陈 平
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王 桐
;
刘育梁
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浏览/下载:129/0
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提交时间:2010/08/12
在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12, 2010-10-15
作者:
杨晓红
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浏览/下载:113/0
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提交时间:2010/08/12
针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-02-24, 2010-08-12, 2010-10-15
张 琨
;
周华兵
;
陈陵都
;
刘忠立
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2010/08/12
一种用于低电压差分信号接收的接口电路
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-17, 2010-08-12, 2010-10-15
丁光新
;
陈陵都
收藏
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浏览/下载:82/0
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提交时间:2010/08/12
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