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苏州纳米技术与纳米仿... [3]
内容类型
专利 [3]
发表日期
2013 [3]
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内容类型:专利
专题:苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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多层材料的减薄装置及减薄待测样品的方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: 102520212A, 申请日期: 2013-10-30, 公开日期: 2014-01-20
作者:
钟海舰
;
徐科
;
曾雄辉
;
王建峰
;
刘争晖
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2014/01/20
材料表面局部光谱测量装置及测量方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: 102519885A, 申请日期: 2013-07-10, 公开日期: 2014-01-20
作者:
刘争晖
;
曾雄辉
;
王建峰
;
徐科
;
钟海舰
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2014/01/20
半导体材料测量装置及原位测量界面缺陷分布的方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: 102495089A, 申请日期: 2013-07-10, 公开日期: 2014-01-20
作者:
徐科
;
邱永鑫
;
钟海舰
;
王建峰
;
刘争晖
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2014/01/20
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