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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 学科主题：Physics     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Characterization on surface and interface structure of epitaxial Pr0.7Sr0.3MnO3/La0.5Ca0.5MnO3/Pr0.7Sr0.3MnO3 trilayer 期刊论文 SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2015, 卷号: 79, 页码: 108-115 作者:  Wang, HO;  Liu, H;  Cao, MX;  Tan, WS;  Wang, XX 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2016/04/18 Grazing incidence x-ray reflectivity  Interface  Roughness  Strain  Pr0.7Sr0.3MnO3/La0.5Ca0.5MnO3/Pr0.7Sr0.3MnO3   In-situ monitoring of EuTiO3 and SrTiO3 film growth using time-resolved X-ray scattering during pulsed-laser deposition 期刊论文 CHINESE PHYSICS C, 2009, 卷号: 33, 期号: 11, 页码: 935-943 作者:  Wang HH(王焕华);  Wang, HH 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/06/29 time-resolved X-ray scattering  PLD  EuTiO3  SrTiO3  thin film  multilayer   Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2007, 卷号: 56, 期号: 4, 页码: 2422-2427 作者:  Zhou, BQ;  Liu, FZ;  Zhu, MF;  Zhou, YQ;  Wu, ZH 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/06/29 grazing incidence X-ray reflectivity  microcrystalline silicon film  surface roughness  growth mechanism