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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：Physics    专题：高能物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2007, 卷号: 56, 期号: 4, 页码: 2422-2427 作者:  Zhou, BQ;  Liu, FZ;  Zhu, MF;  Zhou, YQ;  Wu, ZH 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/06/29 grazing incidence X-ray reflectivity  microcrystalline silicon film  surface roughness  growth mechanism