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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 学科主题：Chemistry     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Depth profiling of iron impurities on GaAs surfaces using total reflection X-ray fluorescence 期刊论文 FRESENIUS JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY, 1996, 卷号: 354, 期号: 2, 页码: #REF! 作者:  Fan QM(范钦敏);  Liu YW(刘亚雯);  Wei CL(魏诚林);  Fan, QM;  Liu, YW 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2016/04/12 DETERMINATION OF DEPTH PROFILING OF METAL TRACE IMPURITIES ON SI SURFACE USING TOTAL REFLECTION X-RAY-FLUORESCENCE 期刊论文 FRESENIUS JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY, 1993, 卷号: 345, 期号: 7, 页码: 518-520 作者:  Fan QM(范钦敏);  Liu YW(刘亚雯);  LI, DL;  Wei CL(魏诚林);  FAN, QM 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2016/06/28