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脉冲激光模拟SRAM器件单粒子翻转效应的试验方法研究 期刊论文
原子能科学技术, 2013, 卷号: 47, 期号: 11, 页码: 2137-2141
上官士鹏; 封国强; 余永涛; 姜昱光; 韩建伟
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SEE characteristics of small feature size devices by using laser backside testing 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:  Feng, Guoqiang;  Shangguan, Shipeng;  Ma, Yingqi;  Han, Jianwei
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