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部分耗尽型SOI CMOS模拟电路设计研究 期刊论文
半导体技术, 2005, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 54-57
尹雪松; 姜凡; 刘忠立
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薄二氧化硅MOS电容电离辐射陷阱电荷研究 期刊论文
半导体学报, 2001, 卷号: 22, 期号: 7, 页码: 904
刘忠立
收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2010/11/23


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