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科研机构
半导体研究所 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2009 [1]
2008 [2]
2002 [1]
2001 [1]
1991 [1]
1985 [1]
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学科主题
半导体物理 [8]
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学科主题:半导体物理
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Role of edge dislocation and Si impurity in linking the blue luminescence and yellow luminescence in n-type GaN films
期刊论文
applied physics letters, 2009, 卷号: 95, 期号: 4, 页码: art. no. 041901
作者:
Yang H
;
Wang H
;
Wang H
;
Wang YT
;
Yang H
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浏览/下载:64/1
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提交时间:2010/03/08
edge dislocations
gallium compounds
III-V semiconductors
impurities
photoluminescence
semiconductor doping
semiconductor thin films
silicon
wide band gap semiconductors
X-ray diffraction
Enhanced electroluminescence intensity of InGaN/GaN multi-quantum-wells based on Mg-doped GaN annealed in O-2
期刊论文
applied physics letters, 2008, 卷号: 93, 期号: 10, 页码: art. no. 102112
Ma, P
;
Gai, YQ
;
Wang, JX
;
Yang, FH
;
Zeng, YP
;
Li, JM
;
Li, JB
收藏
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2010/03/08
P-TYPE GAN
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
AUGMENTED-WAVE METHOD
VAPOR-PHASE EPITAXY
ELECTRICAL-PROPERTIES
OXYGEN
ACTIVATION
SILICON
First-principles study of transition metal impurities in Si
期刊论文
physical review b, 2008, 卷号: 77, 期号: 15, 页码: art. no. 155201
Zhang ZZ
;
Partoens B
;
Chang K
;
Peeters FM
收藏
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浏览/下载:61/7
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提交时间:2010/03/08
SILICON
Deep centers investigations of P-HEMT functional materials of ultra-high-speed microstructures grown by MBE
期刊论文
acta physica sinica, 2002, 卷号: 51, 期号: 2, 页码: 372-376
Lu LW
;
Zhang YH
;
Wang J
;
Ge W
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浏览/下载:136/11
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提交时间:2010/08/12
molecular beam epitaxy growth
P-HEMT and HEMT functional materials
deep centers
ALXGA1-XAS
EPITAXY
TRENDS
Comparison of field effect transistor characteristics between space-grown and earth-grown gallium arsenide single crystal substrates
期刊论文
applied physics letters, 2001, 卷号: 78, 期号: 4, 页码: 478-479
Chen NF
;
Zhong XR
;
Lin LY
;
Zhang M
;
Wang YS
;
Bai XW
;
Zhao J
收藏
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2010/08/12
FLOATING-ZONE GROWTH
ZERO GRAVITY
MICROGRAVITY
STOICHIOMETRY
SEGREGATION
SILICON
GE
IDENTIFICATION OF THE ENERGY-LEVELS OF SI-RH
期刊论文
journal of applied physics, 1991, 卷号: 69, 期号: 4, 页码: 2251-2255
ZHOU J
;
WU JA
;
LU LW
;
HAN ZY
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提交时间:2010/11/15
SILICON
IMPURITIES
DEFECT
DEEP IMPURITY LEVELS IN SILICON UNDER HYDROSTATIC-PRESSURE
期刊论文
chinese physics, 1985, 卷号: 5, 期号: 2, 页码: 471-477
XIA JB
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提交时间:2010/11/15
DEEP IMPURITY LEVELS IN SILICON
期刊论文
chinese physics, 1984, 卷号: 4, 期号: 4, 页码: 966-975
XIA JB
收藏
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提交时间:2010/11/15
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