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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜    专题：上海光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 SiO_2薄膜折射率的准确拟合分析 期刊论文 中国激光, 2008, 卷号: 35, 期号: 5, 页码: 760, 763 王胭脂; 张伟丽; 范正修; 黄建兵; 晋云霞; 姚建可; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1271/128  |  提交时间：2009/09/22 词薄膜  SiO2折射率  包络法  准确拟合  Accurately fitting  Envelop method  Optical-  Refractive index of SiO2  Thin films   Techniques for fabrication of large-size graded reflectivity mirrors 期刊论文 opt. eng., 2008, 卷号: 47, 期号: 12, 页码: 123401 Lv Guonuan; Wei Chaoyang; Li Dawei; Huang Jianbing; Yi Kui 收藏  |  浏览/下载：777/184  |  提交时间：2009/09/22 optical coatings  graded reflectivity mirror  graded thickness layer  mask   利用分光光度计测量光学晶体的折射率 期刊论文 中国激光, 2005, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 1678, 1682 谭天亚; 易葵; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：706/105  |  提交时间：2009/09/22 测量  折射率  分光光度计  LiB3O5晶体  偏振方向  measurement  refractive index  spectrophotometer  LiB3O5 crystal  polarization direction