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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2020     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Visual Defect Inspection for Deep-Aperture Components With Coarse-to-Fine Contour Extraction 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2020, 卷号: 69, 期号: 6, 页码: 3262-3274 作者:  Gong, Xinyi;  Su, Hu;  Xu, De;  Zhang, Jiabin;  Zhang, Lei 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2020/08/03 Coarse-fine positioning  deep-hole component  defect inspection  edge grouping  image processing