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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Annealing-induced evolution in interface stability and electrical performance of sputtering-driven rare-earth-based gate oxides 期刊论文 Journal of Alloys and Compounds, 2019, 卷号: Vol.778, 页码: 579-587 作者:  Shuang Liang;  Die Wang;  Mao Liu;  Gang He 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/04/24 DyO  gate  dielectrics  High-k  Annealing  temperature  Optical  properties  Electrical  characteristics   Identification of ions present in LiF-DyF melts and the mechanism of DyO dissolution therein 期刊论文 Journal of Rare Earths, 2019, 卷号: Vol.37 No.2, 页码: 211-217 作者:  Chunfa Liao;  Shumei Chen;  Xu Wang;  Boqing Cai;  Jueyuan Lin 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/17 LiF-DyF3-Dy2O3  melt  Dissolution  mechanism  Primary  crystallization  temperature  Temkin  model  Flood  model  Melting  enthalpy