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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy ion irradiation induced hard error in MTJ of the MRAM memory array 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 100, 页码: 7 作者:  Zhao, P. X.;  Liu, T. Q.;  Cai, C.;  Li, D. Q.;  Ji, Q. G. 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2022/01/19 MTJ damage  Heavy ion  Displacement damage  Hard bit error  Annealing effect   Damage detection of sandwich panels with truss core based on time domain dynamic responses 期刊论文 COMPOSITE STRUCTURES, 2019, 卷号: 211, 页码: 443-454 作者:  Lu LL(路玲玲);  Le J(乐杰);  Song HW(宋宏伟);  Wang YB(王亚博);  Huang CG(黄晨光) 收藏  |  浏览/下载：120/0  |  提交时间：2019/01/09 Sandwich panel with truss core  Damage identification  Dimensionless time domain dynamic response  Teager energy operator  Poincare map   Single event effects in commercial FRAM and mitigation technique using neutron-induced displacement damage 期刊论文 Microelectronics Reliability, 2019, 卷号: 92, 页码: 149-154 作者:  Wei, Jia-nan;  Guo, Hong-xia;  Zhang, Feng-qi;  He, Chao-hui;  Ju, An-an 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2019/11/19 Complementary metal oxide semiconductor process  Displacement damages  Ferroelectric random access memory  Latch-ups  Mitigation techniques  Parasitic bipolar transistors  Peripheral circuits  Single event effects   Vibration-based damage identification of sandwich panels with truss core 会议论文 Stanford, CA, United states, September 10, 2019 - September 12, 2019 作者:  Lu LL(路玲玲);  Le J(乐杰);  Wang YW(王一伟);  Song HW(宋宏伟);  Huang CG(黄晨光) 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2020/11/20