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Engineering Optics 2.0: A Revolution in Optical Materials, Devices, and Systems 期刊论文
ACS PHOTONICS, 2018, 卷号: 5, 期号: 12, 页码: 4724-4738
作者:  Luo, Xiangang
收藏  |  浏览/下载:43/0  |  提交时间:2019/08/23
Electronic devices with soft input-output components 专利
专利号: US10026721, 申请日期: 2018-07-17, 公开日期: 2018-07-17
作者:  KIM, HOON SIK;  HSU, YUNG-YU;  DRZAIC, PAUL S.
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2019/12/24
基于纳米操作机器人的超声加工与检测协同设计研究 学位论文
博士, 沈阳: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2018
作者:  施佳林;  郭晓鹏
收藏  |  浏览/下载:55/0  |  提交时间:2018/06/16
Investigation of electronic structures and optical properties of β -Si3N4 doped with IV A elements: A first-principles simulation 期刊论文
AIP Advances, 2018, 卷号: 8, 期号: 4
作者:  Lu, Xuefeng;  Gao, Xu;  Ren, Junqiang;  Li, Cuixia;  Guo, Xin
收藏  |  浏览/下载:21/0  |  提交时间:2020/11/14
Investigation of electronic structures and optical properties of β -Si3N4 doped with IV A elements: A first-principles simulation 期刊论文
AIP Advances, 2018, 卷号: 8, 期号: 4
作者:  Lu, Xuefeng;  Gao, Xu;  Ren, Junqiang;  Li, Cuixia;  Guo, Xin
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2022/02/17
Progress in Thermal Fatigue of Micro/Nano-Scale Metal Conductors 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2018, 卷号: 54, 期号: 3, 页码: 357-366
作者:  Zhang Guangping;  Chen Honglei;  Luo Xuemei;  Zhang Bin
收藏  |  浏览/下载:32/0  |  提交时间:2021/02/02
Progress in Thermal Fatigue of Micro/Nano-Scale Metal Conductors 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2018, 卷号: 54, 期号: 3, 页码: 357-366
作者:  Zhang Guangping;  Chen Honglei;  Luo Xuemei;  Zhang Bin
收藏  |  浏览/下载:17/0  |  提交时间:2021/02/02
Tailoring two-dimensional nanoparticle arrays into various patterns 期刊论文
NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 29, 期号: 4, 页码: 1
作者:  Sun, Jinling;  Wang, Ying;  Liao, Jianhui
收藏  |  浏览/下载:23/0  |  提交时间:2018/01/19
Electrodeposition of anisotropic NiFe thin films for integrated high-frequency micro-inductor 期刊论文
2018 19TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC PACKAGING TECHNOLOGY (ICEPT), 2018, 页码: 1241-1245
作者:  Yang, LL;  Gao, LY;  Chen, CH;  Liu, ZQ
收藏  |  浏览/下载:12/0  |  提交时间:2018/12/25
Asymmetric resistive switching behaviour in a Au/a-C:Co/Au planar structure 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 87, 页码: 52, 56
作者:  Zhang, D.;  Li, T. R.;  Zhou, J. W.;  Jiang, Y. C.;  Ren, B.
收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2018/12/28


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