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科研机构
西安交通大学 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2018 [3]
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发表日期:2018
专题:西安交通大学
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Preliminary single event effect distribution investigation on 28?nm SoC using heavy ion microbeam
期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2018
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
Guo, Jinlong
;
Wei, Junze
;
Du, Guanghua
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2019/11/19
All Programmable SoC
Heavy ion microbeam
Layout information
Modern physics
On chip memory
Partial cross section
Single event effects
System on chips (SoC)
Microbeam Heavy-Ion Single-Event Effect on Xilinx 28-nm System on Chip
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 页码: 545-549
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
He, Chaohui
;
Shi, Shuting
;
Cai, Li
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  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2019/11/26
microbeam
single-event effect (SEE)
processing system (PS)
Heavy ion
system on chip (SoC)
On-Orbit Single Event Effect of the Digital Signal Processor of the Alpha Magnetic Spectrometer and Discrepancy Analysis for the Rate Prediction
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 页码: 1140-1146
作者:
Fan, Yun Yun
;
Cai, Xu Dong
;
He, Chao Hui
;
Liu, Dong
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/11/26
single event upset (SEU)
single event function interrupt (SEFI)
prediction
DSP
International Space Station (ISS)
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