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大口径光学系统近场检测装置及其测量方法(授权发明) 专利
专利号: ZL201810429564.5, 申请日期: 2018-05-08, 公开日期: 2020-04-07
作者:  寇松峰;  叶宇;  张志永;  田源;  顾伯忠
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一种极大望远镜光谱仪器光学面散射杂散光建模方法(授权发明) 专利
专利号: ZL201810174549.0, 申请日期: 2018-03-02, 公开日期: 2020-05-19
作者:  朱永田;  张天一;  侯永辉;  丰帆
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用于碳化硅光学镜面改性与面形提升的磁控溅射扫描方法(授权发明) 专利
专利号: ZL201810144019.1, 申请日期: 2018-02-12, 公开日期: 2020-01-21
作者:  王晋峰;  黄猛;  田杰;  王烨儒
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