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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017    内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Characterization of surface defects of silicon substrates by the total scattering and absorption 会议论文 作者:  Zhang, Kepeng;  Zhang, Xingxin;  Huang, Wei 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2018/12/20 Absorption - Atomic force microscopy - Brillouin scattering - Light scattering - Microscopes - Optical systems - Photonics - Reflection - Silicon - Substrates - Surface roughness - Surface scattering