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西安交通大学 [1]
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近代物理研究所 [1]
内容类型
会议论文 [3]
发表日期
2017 [3]
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共3条,第1-3条
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发表日期:2017
内容类型:会议论文
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Low energy proton induced single event upset in 65 nm DDR and QDR commercial SRAMs
会议论文
作者:
Ye, B.
;
Liu, J.
;
Wang, T. S.
;
Liu, T. Q.
;
Maaz, K.
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2018/08/20
SRAM
Low energy proton
Single event upset
Direct ionization
Primary investigation the impacts of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system (MicroZed) using laser irradiation
会议论文
作者:
Liu, Shuhuan
;
Du, Xuecheng
;
Du, Xiaozhi
;
Zhang, Yao
;
Mubashiru, Lawal Olarewaju
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/11/26
Xilinx Zynq-7010 SoC
DDR3
Failure modes
Laser irradiation
MicroZed
电火花加工机床高性能数控系统主板及高速信号关键技术研究
会议论文
特种加工技术智能化与精密化——第17届全国特种加工学术会议, 中国广东广州, 2017-11-01
作者:
孙东江
;
何虎
;
伏金娟
;
李艳
;
刘建勇
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/30
电火花加工
数控系统主板
COM EXPRESS
DDR3
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