QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 电极厚度对MRPC计数率能力的影响 期刊论文 2016, 2016 朱伟平; 王义; 冯笙琴; ZHU Wei-ping; WANG Yi; FENG Sheng-qin 收藏  |  浏览/下载：3/0 Investigation on the Amplitude of Random Telegraph Noise(RTN) in Nanoscale MOSFETs——Scaling Limit of “Hole in the Inversion Layer” Model 其他 2016-01-01 Zexuan Zhang; Zhe Zhang; Shaofeng Guo; Runsheng Wang; Xingsheng Wang; Binjie Cheng; Ru Huang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 Inversion  equivalence  drain  Model  RTN  negligible  helpful  scaled  assumed  scaling  Inversion  equivalence  drain  Model  RTN  negligible  helpful  scaled  assumed  scaling