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浏览/检索结果: 共11条，第1-10条 帮助 限定条件 发表日期：2015    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A compact and wide-band polarization beam splitter based on wedge-shaped MMI coupler in silicon-on-insulator 其他 2015-01-01 Yang, Wei; Xu, Yue; Li, Yanping; Wang, Xingjun; Wang, Ziyu 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 Comprehensive Understanding of Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, Hai; Yin, Longxiang; Li, Yun; Xu, Nuo; Zhao, Kai; He, Yandong; Du, Gang; Liu, Xiaoyan; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 multi-gate FET  Silicon-on-Insulator  hot carrier  interface charge  oxide charge  reliability  REGIME   Comprehensive performance re-assessment of TFETs with a novel design by gate and source engineering from device/circuit perspective 其他 2015-01-01 Huang, Qianqian; Huang, Ru; Wu, Chunlei; Zhu, Hao; Chen, Cheng; Wang, Jiaxin; Guo, Lingyi; Wang, Runsheng; Ye, Le; Wang, Yangyuan 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 High temperature pressure sensor using a thermostable electrode 其他 2015-01-01 Liu, G.D.; Cui, W.P.; Hu, H.; Zhang, F.S.; Zhang, Y.X.; Gao, C.C.; Hao, Y.L. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 Understanding of HCI degradation temperature dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV spectroscopy 其他 2015-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 An Investigation of DC/AC Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, H.; Liu, X. Y.; Xu, N.; He, Y. D.; Du, G.; Zhang, X. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 multi-gate FET  Silicon-on-insulator  hot carrier degradation  reliability  N-FINFETS  INJECTION  MOSFETS  GATE   Understanding of HCI Degradation Temperature Dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV Spectroscopy 其他 2015-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xin 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/12/03 LDMOS TRANSISTORS   A compact and wide-band polarization beam splitter based on wedge-shaped MMI coupler in silicon-on-insulator 其他 2015-01-01 Wei Yang; Yue Xu; Yanping Li; Xingjun Wang; Ziyu Wang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 High temperature pressure sensor using Cu-Sn wafer level bonding 其他 2015-01-01 Liu, G.D.; Gao, C.C.; Zhang, Y.X.; Hao, Y.L. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 An Investigation of DC/AC hot carrier degradation in multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, H.; Liu, X.Y.; Xu, N.; He, Y.D.; Du, G.; Zhang, X. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03