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基于乘子法的自发荧光断层成像重建方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201210523586.0, 申请日期: 2012-12-07, 公开日期: 2013-03-27
作者:  田捷;  郭伟;  杨鑫
收藏  |  浏览/下载:17/0  |  提交时间:2015/09/22


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