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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2011    专题：金属研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Structural and microstructural analyses of crystalline Er2O3 high-k films grown on Si (001) by laser molecular beam epitaxy 期刊论文 ACTA MATERIALIA, 2011, 卷号: 59, 期号: 4, 页码: 1644-1650 作者:  Wang, X.;  Zhu, Y. L.;  He, M.;  Lu, H. B.;  Ma, X. L. 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2021/02/02 Thin films  High-resolution electron microscopy  Energy-filtered transmission microscopy  Interface  Dielectrics   Structural and microstructural analyses of crystalline Er(2)O(3) high-k films grown on Si (001) by laser molecular beam epitaxy 期刊论文 Acta Materialia, 2011, 卷号: 59, 期号: 4, 页码: 1644-1650 X. Wang; Y. L. Zhu; M. He; H. B. Lu; X. L. Ma 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/04/13 Thin films  High-resolution electron microscopy  Energy-filtered  transmission microscopy  Interface  Dielectrics  thin-films  electrical-properties  oxide-films  silicon  si(001)  dielectrics  interface