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清华大学 [2]
半导体研究所 [1]
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期刊论文 [3]
发表日期
2010 [3]
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Quantitative strain characterization of sige heterostructures by high-resolution transmission electron microscopy
期刊论文
Physica b-condensed matter, 2010, 卷号: 405, 期号: 16, 页码: 3433-3435
作者:
Zhao, C. W.
;
Xing, Y. M.
;
Yu, J. Z.
;
Han, G. Q.
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提交时间:2019/05/12
Si/ge heterostructures
Strain
High-resolution transmission electron
Microscopy
薄宽带钢横向瓢曲行为的解析研究
期刊论文
2010, 2010
常铁柱
;
张清东
;
黄世清
;
Chang Tiezhu
;
Zhang Qingdong
;
Huang Shiqing
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
成层半空间出平面自由波场的一维化时域算法
期刊论文
2010, 2010
刘晶波
;
王艳
;
Liu Jingbo
;
Wang Yan
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