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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2008    专题：苏州纳米技术与纳米仿生研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An automatic imaging spectroscopic ellipsometer for characterization of nano-film pattern on solid substrate 会议论文 4th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-4), Stockholm, SWEDEN, JUN 11-15, 2007 作者:  Chen YY(陈艳艳) 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2010/01/15