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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2006    学科主题：光电子学     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influence of cracks generation on the structural and optical properties of GaN/Al0.55Ga0.45N multiple quantum wells 期刊论文 applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 3043-3050 作者:  Zhang SM 收藏  |  浏览/下载：83/0  |  提交时间：2010/04/11 nitrides  multiple quantum wells  cracks  dislocations  vacancies x-ray diffraction  X-RAY-DIFFRACTION  EDGE DISLOCATIONS  GAN  FILMS  SUPERLATTICES  RELAXATION  STRAIN   Probing deep level centers in GaN epilayers with variable-frequency capacitance-voltage characteristics of Au/GaN Schottky contacts 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 89, 期号: 14, 页码: art.no.143505 Wang RX (Wang R. X.); Xu SJ (Xu S. J.); Shi SL (Shi S. L.); Beling CD (Beling C. D.); Fung S (Fung S.); Zhao DG (Zhao D. G.); Yang H (Yang H.); Tao XM (Tao X. M.) 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2010/04/11 DISLOCATIONS  DEGRADATION   Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate 期刊论文 journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 Zhao L (Zhao Lei); Zuo YH (Zuo Yuhua); Cheng BW (Cheng Buwen); Yu JZ (Yu Jinzhong); Wang QM (Wang Qiming) 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2010/04/11 Si1_xGex  Ge content  composition determination  double crystals X-ray diffraction (DCXRD)  micro-Raman measurement  BAND-GAP  HETEROSTRUCTURES  SUPERLATTICES  ALLOYS  RELAXATION  SCATTERING  THICKNESS  STRAIN