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Heavy ion induced damage and annealing processes in silicon 期刊论文
Nucl. Inst. Meth. B, 1984, 卷号: 2, 期号: 1-3, 页码: 761
I. F. Bubb; D. J. Chivers; J. R. Liu; A. P. Pogany; K. T. Short; H. K. Wagenfeld; J. S. Williams
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