| 测量波像差的系统 | |
| 赵卫 ; 张周锋 ; 谢永军 ; 康福增 | |
| 2013-12-25 | |
| 专利号 | CN203365912 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 产权排序 | 1 |
| 权利人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 本实用新型涉及一种测量波像差的系统，包括干涉仪以及与干涉仪处于同一光路上的平面反射系统；待测光学系统置于干涉仪和平面反射系统之间；平面反射系统是液体反射镜；干涉仪、待测光学系统以及液体反射镜自上而下依次设置在同一光路上。本实用新型提供了一种不仅可用来检测小口径光学系统波像差，同样适用于大口径光学系统波像差检测的系统。 |
| 公开日期 | 2013-12-25 |
| 申请日期 | 2013-06-09 |
| 专利申请号 | CN201320339373 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21600]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_瞬态光学技术国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵卫,张周锋,谢永军,等. 测量波像差的系统. CN203365912. 2013-12-25. |
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