航天电子系统中电子元器件选用的途径分析

	航天电子系统中电子元器件选用的途径分析
	姜秀杰 ; 孙辉先 ; 王志华 ; 张利
刊名	电子器件
	2005
卷号	28 期号:1 页码:38-43
关键词	抗辐射加固电子元器件空间应用商用电子系统测试冗余设计航天神舟四号飞船在轨飞行
ISSN号	1005-9490
其他题名	Technical Overview of the Electronic Components Selection for Spacecraft
通讯作者	北京8701信箱
中文摘要	针对航天电子系统中的电子元器件选用的途径一一采用抗辐射加固器件和采用高性能商用器件进行了比较分析;阐述了空间飞行器采用抗辐射加固器件的优点和存在的问题,探讨了采用高性能商用器件的几种途径,抗辐射加固,冗余设计,筛选测试,以及存在的问题和面临的风险;以神舟四号飞船中商用器件的使用作为筛选测试的空间应用实例.给出了其在轨飞行的试验结果;并提出了商用器件的筛选测试必将成为商用器件空间应用的一个新的发展趋势.
学科主题	空间技术
资助信息	国家自然科学基金和中国科学院知识新工程领域前沿项目共同资助
语种	中文
公开日期	2014-05-20
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/1669]
专题	国家空间科学中心_其他部室
推荐引用方式 GB/T 7714	姜秀杰,孙辉先,王志华,等. 航天电子系统中电子元器件选用的途径分析[J]. 电子器件,2005,28(1):38-43.
APA	姜秀杰,孙辉先,王志华,&张利.(2005).航天电子系统中电子元器件选用的途径分析.电子器件,28(1),38-43.
MLA	姜秀杰,et al."航天电子系统中电子元器件选用的途径分析".电子器件 28.1(2005):38-43.