| 一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法 | |
| 李刚; 王伟; 弋东驰; 魏际同 | |
| 2020-07-21 | |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 专利号 | CN202010704910.3 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法，解决现有图像处理方法无法解决由光照不均匀、对比度低、损伤点粘连、像素偏移对损伤点识别准确性影响的问题。该方法包括步骤：1)将损伤前、损伤后图像转换为损伤前、损伤后灰度图像；2)对损伤前、损伤后灰度图像均采用两种局部二值化算法处理并融合，得到二值化后的损伤前融合图像和损伤后融合图像；3)根据相位相关计算出的像素偏移量对损伤前融合图像进行仿射变换，再背景差分运算得到仅存在损伤点的二值化图像；4)对仅存在损伤点的二值化图像进行闭运算再迭代腐蚀，得到核信息；5)生成分水岭分割的种子区域；6)使用分水岭分割算法对损伤后图像进行分割，获取损伤点信息。 |
| 公开日期 | 2020-12-01 |
| 申请日期 | 2020-07-21 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95417]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_先进光学仪器研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李刚,王伟,弋东驰,等. 一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法. CN202010704910.3. 2020-07-21. |
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