| 多谱段光轴平行性测试装置及测试方法 | |
| 田留德; 周艳; 王涛; 赵建科; 曹昆 | |
| 2021-05-14 | |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 专利号 | CN202010435713.6 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 为了解决当前光轴平行性测试装置不能满足多谱段光电设备各光学分系统光轴平行性的测试问题，本发明提出了一种多谱段光轴平行性测试装置及测试方法。本发明采用离轴抛物面反射镜、分光镜、短波红外相机、宽谱段光源、目标靶和激光光源实现了宽谱段无穷远目标的模拟，根据模拟目标在各光学分系统中成像的位置、各光学分系统参数和平行光管焦距，计算各光学分系统之间光轴的一致性，能够完成多谱段光电设备中可见光成像系统、红外成像系统、激光发射系统、激光接收系统、目视瞄准系统及设备机械基准之间的光轴平行性的测试，能实现当前光电设备光轴一致性的全部要求。 |
| 公开日期 | 2021-05-14 |
| 申请日期 | 2020-05-21 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95229]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 田留德,周艳,王涛,等. 多谱段光轴平行性测试装置及测试方法. CN202010435713.6. 2021-05-14. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论