残余应力测试分析的局部热扰动方法

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	残余应力测试分析的局部热扰动方法
	陈光南; 吴臣武
	2013-09-25
专利国别	中国
专利号	ZL2011101530548
专利类型	发明专利
权利人	中国科学院力学研究所
中文摘要	本发明公开了一种残余应力测试分析的局部热扰动方法，包括如下步骤：1)对材料的待测区域加热至该局部区域产生包含初始残余应力贡献的足够大的弹性变形，同时通过红外测温单元测量关键点温度，并通过摄像单元采集所述材料的表面变形过程的图像信息；2)根据所述图像信息通过计算得到热扰动后该局部区域的视应变场εSH，同时，基于有限元法计算局部加热所形成的温度场并根据温度场T计算得到热弹性应变场εTE；3)根据εSH＝εTE+ΔεIN的公式计算得到对应初始残余应力贡献的应变场增量ΔεIN；4)根据公式ΔεIN＝[K]×εIN计算获得初始残余应力。由于本发明采用局部热扰动的方式来检测材料的局部残余应力分布，因此不仅不用破坏材料本身，并且可以得到被测区域的残余应力分布结果。
公开日期	2013-10-09
申请日期	2011-06-09
语种	中文
专利证书号	1277772
专利申请号	2011101530548
专利代理	中信华成专利事务所
内容类型	专利
源URL	[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/47470]
专题	力学研究所_先进制造工艺力学重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	陈光南,吴臣武. 残余应力测试分析的局部热扰动方法. ZL2011101530548. 2013-09-25.