干涉成像光谱仪的EMC特性分析 | |
李自田; 刘学斌 | |
刊名 | 光子学报 |
2007 | |
卷号 | 36期号:11页码:2094-2097 |
ISSN号 | 1004-4213 |
通讯作者 | 李自田 |
学科主题 | 光谱学 |
收录类别 | EI |
公开日期 | 2010-01-12 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/5894] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
通讯作者 | 李自田 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李自田,刘学斌. 干涉成像光谱仪的EMC特性分析[J]. 光子学报,2007,36(11):2094-2097. |
APA | 李自田,&刘学斌.(2007).干涉成像光谱仪的EMC特性分析.光子学报,36(11),2094-2097. |
MLA | 李自田,et al."干涉成像光谱仪的EMC特性分析".光子学报 36.11(2007):2094-2097. |
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