Cherenkov Diffraction Radiation as a tool for beam diagnostics | |
T. Lefèvre; D. Alves; M. Bergamaschi; A. Curcio; O.R. Jones; R. Kieffer; S. Mazzoni; N. Mounet; A. Schlogelhofer; E. Senes | |
2019 | |
会议日期 | 2019 |
会议地点 | Sweden |
会议录 | Proceedings of the 8th International Beam Instrumentation Conference |
语种 | 英语 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/288637] |
专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
作者单位 | CERN, Meyrin, Switzerland |
推荐引用方式 GB/T 7714 | T. Lefèvre,D. Alves,M. Bergamaschi,et al. Cherenkov Diffraction Radiation as a tool for beam diagnostics[C]. 见:. Sweden. 2019. |
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