FPGA在辐照环境下的故障注入系统研究
薛晓良[1,2]; 苏海冰[1]; 舒怀亮[1]; 郭帅[1]; 吴威[1]
刊名光电工程
2019
卷号46期号:12页码:21-27
关键词SRAM型FPGA 单粒子翻转SEU 配置RAM ICAP 故障注入
DOI10.12086/oee.2019.180549
文献子类期刊论文
英文摘要对XilinxSRAM型FPGA的配置RAM的帧物理组织进行了研究,给出了提取帧结构的方法,并给出了比特流中帧的排列顺序;分析了SEMIP核的中间文件的结构并给出了提取必要位的方法,通过对必要位进行0/1翻转,用以模拟辐射环境下FPGA易出现的单粒子翻转问题;设计了PC端界面以实现完整的人机交互。故障注入系统在FPGA片上实现,通过内部ICAP接口实现对配置数据的读写,无需处理器参与。通过对待测电路的必要位逐位进行翻转及修复测试后对每个位进行了分类,分类结果可用于在后续故障修复中对特殊位进行重点防护。
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9844]  
专题光电技术研究所_光电探测技术研究室(三室)
作者单位1.中国科学院光电技术研究所,四川成都610209
2.中国科学院大学,北京100049
推荐引用方式
GB/T 7714
薛晓良[1,2],苏海冰[1],舒怀亮[1],等. FPGA在辐照环境下的故障注入系统研究[J]. 光电工程,2019,46(12):21-27.
APA 薛晓良[1,2],苏海冰[1],舒怀亮[1],郭帅[1],&吴威[1].(2019).FPGA在辐照环境下的故障注入系统研究.光电工程,46(12),21-27.
MLA 薛晓良[1,2],et al."FPGA在辐照环境下的故障注入系统研究".光电工程 46.12(2019):21-27.
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