一种采用电化学腐蚀技术来制作InP基SLD 电流非注入吸收区的方法
张晶; 祝子翔; 乔忠良; 高欣; 薄报学; 李辉; 王宪涛; 魏志鹏; 马晓辉; 孙春明
2018-02-16
著作权人长春理工大学
专利号CN107706740A
国家中国
文献子类发明申请
其他题名一种采用电化学腐蚀技术来制作InP基SLD 电流非注入吸收区的方法
英文摘要一种采用电化学腐蚀技术制作InP基SLD电流非注入吸收区的方法。已知采用传统质子轰击办法来制作SLD电流非注入吸收区不足之处是过小计量的轰击效果不明显、不稳定或者过强轰击容易造成器件损坏。传统质子轰击办法来制作SLD电流非注入区对质子轰击工艺要求过高,器件的成品率过低。本发明是一种采用电化学腐蚀技术制作InP基SLD电流非注入吸收区的方法,器件整体结构由脊型台面和深纳米洞吸收区组成,在非出射端面处制作深纳米洞吸收区以达到抑制F‑P振荡的目的,吸收区经过电化学腐蚀等工艺制作而成,该吸收区的制作对腐蚀深度和腐蚀形状没有过多要求,仅需要穿过整个外延层可达到良好的光吸收效果。
公开日期2018-02-16
申请日期2017-09-29
状态申请中
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92161]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位长春理工大学
推荐引用方式
GB/T 7714
张晶,祝子翔,乔忠良,等. 一种采用电化学腐蚀技术来制作InP基SLD 电流非注入吸收区的方法. CN107706740A. 2018-02-16.
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