| 包括干涉仪和限定密集线谱的吸收介质的测量设备 | |
| T·鲁斯; B·伯克姆; 伊斯·萨尔瓦德 | |
| 2015-01-14 | |
| 著作权人 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
| 专利号 | CN104285125A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 包括干涉仪和限定密集线谱的吸收介质的测量设备 |
| 英文摘要 | 一种测量设备，该测量设备包括用于生成单模测量辐射的可调谐激光二极管，所述激光二极管被按这样的方式设计为激光束源，即，该测量辐射的发射波长借助于调谐参数的变化而在一波长范围内可变；包括限定该波长范围内的吸收谱线的吸收介质；包括具有用于该吸收介质的谱线图的存储器；包括用于确定吸收率的检测器；以及包括控制与评估单元，该控制与评估单元用于按根据以该发射波长保持稳定的方式所确定的吸收率的这种方式，借助于所述至少一个调谐参数来调节该发射波长。该控制与评估单元按这样的方式来设计，即，当执行校准模式时，该谱线图中的方位依靠限定的样本测量(71)随着至少一个测量参数的变化来执行的事实而实现，根据该样本测量(71)导出样本测量结果(72)，基于所存储的谱线图，对该样本测量结果(72)与至少一个基准(73、74)进行比较(75)，其中，在该比较的背景下，至少利用所述基准(73、74)来协调该样本测量结果(72)，并且按根据该协调和基于算法评估的方式来确定(76)该谱线图中的方位，并且可以按根据该谱线图中的所确定的方位的方式，来确定和/或设置(77)该测量辐射的发射波长。 |
| 公开日期 | 2015-01-14 |
| 申请日期 | 2013-05-06 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86218]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | T·鲁斯,B·伯克姆,伊斯·萨尔瓦德. 包括干涉仪和限定密集线谱的吸收介质的测量设备. CN104285125A. 2015-01-14. |
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