陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测方法

	陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测方法
	李铁军 4; 孙跃 4; 邵桂芳 3; 石为人 4; 刘建军 2; 颜识涵1
刊名	激光与光电子学进展
	2018
卷号	055 期号:006 页码:061101
ISSN号	1006-4125
英文摘要	提出了一种时频域多模式新光谱成像方法，对内含缺陷的4种陶瓷基复合材料（CMC）样本实现了无损检测，形成了检测样本的太赫兹图像库，并引入5个图像质量的客观综合评价指标，通过指标融合处理选出了质量较佳的太赫兹图像。基于尺度不变特征变换与K均值聚类实现了该图像的检索。实验结果证实，该方法可有效地对CMC不同位置处的不同宽度缺陷进行成像检测。
语种	英语
内容类型	期刊论文
源URL	[http://119.78.100.138/handle/2HOD01W0/9031]
专题	中国科学院重庆绿色智能技术研究院
作者单位	1.中国科学院重庆绿色智能技术研究院 2.九江学院 3.厦门大学 4.重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李铁军,孙跃,邵桂芳,等. 陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测方法[J]. 激光与光电子学进展,2018,055(006):061101.
APA	李铁军,孙跃,邵桂芳,石为人,刘建军,&颜识涵.(2018).陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测方法.激光与光电子学进展,055(006),061101.
MLA	李铁军,et al."陶瓷基复合材料的太赫兹无损检测方法".激光与光电子学进展 055.006(2018):061101.