| 适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法 | |
| 刘永凯; 张玉良; 高世杰; 王建立; 盛磊; 伞晓刚; 曾飞; 耿天文; 陈云善; 张兴亮 | |
| 2017-10-20 | |
| 著作权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 专利号 | CN107272664A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法 |
| 英文摘要 | 适用于光电跟踪设备的精跟踪算法验证系统及验证方法涉及一种精跟踪控制算法的验证系统及方法，该系统包括：半导体激光器、发射光纤、离轴长焦平行光管、扰动模拟器、扰动模拟器驱动器、扰动控制电路板、精跟踪执行机构、精跟踪驱动器、精跟踪控制电路板、主控计算机、同轴望远镜系统、CMOS图像传感器和光斑图像显示器。扰动控制电路板扰动，精跟踪控制电路板依待验证控制算法进行跟踪，分别记录光斑位置信息，并计算未跟踪脱靶量K与跟踪后脱靶量V，计算隔离度评价该算法的有效性，本发明应用于需要使用精跟踪系统的光电设备，使用者可在不具备实际设备调试条件下，进行精跟踪跟踪控制算法实物验证，且系统简单，使用性高。 |
| 公开日期 | 2017-10-20 |
| 申请日期 | 2017-07-31 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/65489]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘永凯,张玉良,高世杰,等. 适用于光电跟踪系统的精跟踪控制算法验证系统及方法. CN107272664A. 2017-10-20. |
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